华为OD机试 - 出错的或电路 - 二进制

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专栏导读

本专栏收录于《华为OD机试（JAVA）真题（A卷+B卷）》。

刷的越多，抽中的概率越大，每一题都有详细的答题思路、详细的代码注释、样例测试，发现新题目，随时更新，全天CSDN在线答疑。

一、题目描述

某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定，具体现象为计算两个二进制数的或操作时，第一个二进制中某两个比特位会出现交换，交换的比特位置是随机的，但只交换这两个为，其他位不变。

很明显，这个交互可能会影响最终的或结果，也可能不会有影响。

为了评估影响和定位出错的根因，工程师需要研究在各种交换的可能下，最终的或结果发生改变的情况有多少种。

二、输入描述

第一行有一个正整数N,其中 1 <=N <=1000000。
第二行有一个长为N的而二进制数，表示与电路的第一输入数，即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。

三、输出描述

输出只有一个整数，表示会影响或结果的交换方案个数。

四、解题思路

输入的二进制数的位数；
输入第一个二进制数；
输入第二个二进制数；
统计两个二进制数中 0 和 1 的个数；
遍历两个二进制数的每一位；
如果 bin1 的该位是 0；
- 统计 bin1 中 0 的个数加 1；
- 如果 bin2 的该位也是 0，统计 bin2 中 0 的个数加 1；
如果 bin1 的该位是 1；
- 统计 bin1 中 1 的个数加 1；
- 如果 bin2 的该位是 0，统计 bin2 中 1 的个数加 1；
计算会影响或结果的交换方案个数。

五、Java算法源码

java">package com.guor.od;

import java.util.*;

public class OdTest {
    public static void main(String[] args) {
        Scanner sc = new Scanner(System.in);
        // 输入的二进制数的位数
        int n = sc.nextInt();
        // 第一个二进制数
        String bin1 = sc.next();
        // 第二个二进制数
        String bin2 = sc.next();
        // 统计两个二进制数中 0 和 1 的个数
        int cnt0Bin1 = 0;
        int cnt1Bin1 = 0;
        int cnt0Bin2 = 0;
        int cnt1Bin2 = 0;
        // 遍历两个二进制数的每一位
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            // 如果 bin1 的该位是 0
            if (bin1.charAt(i) == '0') {
                // 统计 bin1 中 0 的个数加 1
                cnt0Bin1++;
                // 如果 bin2 的该位也是 0，统计 bin2 中 0 的个数加 1
                if (bin2.charAt(i) == '0') {
                    cnt0Bin2++;
                }
            } else { // 如果 bin1 的该位是 1
                // 统计 bin1 中 1 的个数加 1
                cnt1Bin1++;
                // 如果 bin2 的该位是 0，统计 bin2 中 1 的个数加 1
                if (bin2.charAt(i) == '0') {
                    cnt1Bin2++;
                }
            }
        }
        // 计算会影响或结果的交换方案个数
        System.out.println(cnt0Bin2 * cnt1Bin1 + cnt1Bin2 * cnt0Bin1 - cnt0Bin2 * cnt1Bin2);
    }
}